8 इंच सिलिकॉन वेफर पी/एन-टाइप (100) 1-100Ω डमी रीक्लेम सब्सट्रेट

संक्षिप्त वर्णन:

डबल साइडेड पॉलिश्ड वेफर्स की बड़ी इन्वेंट्री, सभी वेफर्स 50 से 400 मिमी व्यास के हैं यदि आपकी विशिष्टता हमारी इन्वेंट्री में उपलब्ध नहीं है, तो हमने कई आपूर्तिकर्ताओं के साथ दीर्घकालिक संबंध स्थापित किए हैं जो किसी भी अद्वितीय विनिर्देश को फिट करने के लिए कस्टम फैब्रिकेट वेफर्स करने में सक्षम हैं। डबल-साइडेड पॉलिश्ड वेफर्स का उपयोग सिलिकॉन, ग्लास और अन्य सामग्रियों के लिए किया जा सकता है जो आमतौर पर सेमीकंडक्टर उद्योग में उपयोग किए जाते हैं।

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उत्पाद विवरण

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वेफर बॉक्स का परिचय

8-इंच सिलिकॉन वेफर एक आम तौर पर इस्तेमाल की जाने वाली सिलिकॉन सब्सट्रेट सामग्री है और एकीकृत सर्किट की निर्माण प्रक्रिया में व्यापक रूप से उपयोग की जाती है। इस तरह के सिलिकॉन वेफ़र का इस्तेमाल आम तौर पर माइक्रोप्रोसेसर, मेमोरी चिप्स, सेंसर और अन्य इलेक्ट्रॉनिक उपकरणों सहित विभिन्न प्रकार के एकीकृत सर्किट बनाने के लिए किया जाता है। 8-इंच सिलिकॉन वेफ़र का इस्तेमाल आम तौर पर अपेक्षाकृत बड़े आकार के चिप्स बनाने के लिए किया जाता है, जिसमें एक बड़ा सतह क्षेत्र और एक ही सिलिकॉन वेफ़र पर अधिक चिप्स बनाने की क्षमता शामिल है, जिससे उत्पादन क्षमता में वृद्धि होती है। 8-इंच सिलिकॉन वेफ़र में अच्छे यांत्रिक और रासायनिक गुण भी होते हैं, जो बड़े पैमाने पर एकीकृत सर्किट उत्पादन के लिए उपयुक्त है।

उत्पाद की विशेषताएँ

8" पी/एन प्रकार, पॉलिश सिलिकॉन वेफर (25 पीस)

अभिविन्यास: 200

प्रतिरोधकता: 0.1 - 40 ओम•सेमी (यह बैच दर बैच भिन्न हो सकती है)

मोटाई: 725+/-20um

प्राइम/मॉनीटर/टेस्ट ग्रेड

भौतिक गुण

पैरामीटर	विशेषता
प्रकार/डोपेंट	पी, बोरोन एन, फॉस्फोरस एन, एंटीमनी एन, आर्सेनिक
झुकाव	<100>, <111> ग्राहक के विनिर्देशों के अनुसार अभिविन्यास को काटें
ऑक्सीजन सामग्री	10¹⁹ppmA ग्राहक के विनिर्देश के अनुसार कस्टम सहनशीलता
कार्बन सामग्री	< 0.6 पीपीएमए

यांत्रिक विशेषताएं

पैरामीटर	मुख्य	मॉनिटर/ टेस्ट ए	परीक्षा
व्यास	200±0.2मिमी	200 ± 0.2मिमी	200 ± 0.5 मिमी
मोटाई	725±20µm (मानक)	725±25µm(मानक) 450±25µm 625±25µm 1000±25µm 1300±25µm 1500±25 µm	725±50µm (मानक)
टीटीवी	< 5 µm	< 10 µm	< 15 µm
झुकना	< 30 µm	< 30 µm	< 50 µm
लपेटना	< 30 µm	< 30 µm	< 50 µm
किनारा गोलाई	अर्ध-एसटीडी
अंकन	प्राथमिक सेमी-फ्लैट केवल, सेमी-एसटीडी फ्लैट्स जेइडा फ्लैट, नॉच

पैरामीटर	मुख्य	मॉनिटर/ टेस्ट ए	परीक्षा
सामने की ओर मानदंड
सतह की स्थिति	रासायनिक यांत्रिक पॉलिश	रासायनिक यांत्रिक पॉलिश	रासायनिक यांत्रिक पॉलिश
सतह खुरदरापन	< 2 ए°	< 2 ए°	< 2 ए°
दूषण कण@ >0.3 µm	= 20	= 20	= 30
धुंध,गड्ढे संतरे का छिलका	कोई नहीं	कोई नहीं	कोई नहीं
देखा, निशान स्त्रिअतिओन्स	कोई नहीं	कोई नहीं	कोई नहीं
पीछे की ओर मानदंड
दरारें, कौवे के पैर, आरी के निशान, दाग	कोई नहीं	कोई नहीं	कोई नहीं
सतह की स्थिति	कास्टिक नक्काशी